Micron 176L 3D NAND

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Micron B47R 3D CTF Cua Nand Die,世界上第一台176L(195T)!

美光176L 3D NAND闪存是全球首款176L 3D NAND闪存。TechInsights刚刚发现了512Gb 176L模具(B47R模具标记),并迅速查看了其工艺、结构和模具设计。美光176L 3D NAND是目前最具突破性的技术之一,尤其适用于数据中心、5G、人工智能、云、智能边缘、移动设备等存储应用。美光已经宣布了其性能改进,例如,读延迟和写延迟比96L FG CuA提高了35%以上,比128L CTF CuA提高了25%以上。

TechInsights的NAND&DRAM记忆专家认为,176层NAND通用闪存存储(UFS)显示膨胀系统设计应用,如:

  • 高端旗舰手机
  • 移动设备所需的高容量、小尺寸
  • 专业工作站
  • 超薄笔记本电脑
  • 5 g网络速度

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TechInsights的反向工程实验室对176层NAND通用闪存(UFS) 3.1移动解决方案的架构发现

我们撕毁微米3400 1TB SSD(PCIe Gen-4 CSSD NVME 1.4)并获得MT29F4T08EQLEEG8-QB:E(FBGA代码:NY124)。在电路板上打包了两个512GB的设备,可为1TB SSD。3400 SSD采用Micron最新的内部SSD控制器DM02A1,其不同于先前的2300 SSD(96L)和Crucience P5的DM01B2控制器。

美光176层NAND通用闪存模具级成像和规格

Micron 176L 3D NAND

图1.微米176L 512Gb TLC模具图像;查看顶部金属和CuA(添加模具标记)

图1显示了顶部金属查看模具,CMOS电路查看模具,和B47R模具标记。与之前128L CTF CuA 512Gb B37R TLC模具相比,由于更高的细胞密度,3D NAND细胞数量增加,页面缓冲/字行开关设计有效缩放,模具尺寸减少了25%。

176L 3D NAND是微米的第二代CTF结构。NAND单元阵列高度(来自源侧选择器到BL的高度,比较)现在大于11μm。每个垂直NAND字符串的选项(STS)和伪字线(DWLS)的总数为195,195t,所谓的,这是3D NAND上有史以来的最高数字(图2)。它们保持双堆叠架构,更换栅极工艺,充电器捕集氮化物(CTN)和阵列CMOS inder and(CUA)技术。


3D NAND市场领导和设备的特征比较

Micron 176L 3D NAND

图2。3D NAND播放器和设备的总门数比较

钻头密度达到10.273 Gb/mm2与之前的128L 512Gb TLC模具相比,512Gb TLC模具的尺寸大幅缩小(B37R模具标记,7.755 Gb/mm)2,请参阅TechStream Memory博客;https://app.techinsights.com/blog-post/2070 有关更多详细信息)。这是世界上第一款TLC Micron 512Gb TLC NAND芯片尺寸。


微米128L与新的176L电池结构和比特密度

Micron 176L 3D NAND

图3.微米512GB TLC NAND芯片尺寸和位密度趋势,最多可达176L

与Micron 128L相比,新的176L电池结构由两个面板组成,每个面板有88个WLs。BEOL和CuA的互连金属和触点/通道均为128L,垂直通道(VC)孔高度增加到10.6µm。WL和BL方向的3D NAND单元细胞大小保持在0.02µm2,单位电池体积略微降至1.12×10-4μm3.由于闸门节距较小(表1)。

装置 微米128L 512Gb 微米176 l 512 gb
父产品交货。 至关重要的BX500 SSD
(2021)
Micron 3400 1TB SSD
(2021)
过程(存储) CFT(CTN) CFT(CTN)
活动 薄层色谱 薄层色谱
模具标记 B37R B47R.
模具尺寸 66.02毫米2 49.84毫米2
位密度 7.76 GB / mm2 10.27 Gb /毫米2
#总盖茨(垂直) 147t. 195吨
#ivewwls. 128. 176
#甲板 2 2
#wls分配了 64 + 64 88 + 88
#金属 6 (4W, 1Cu, 1Al) 6 (4W, 1Cu, 1Al)
CMOS体系结构 CuA CuA
单位细胞尺寸 0.020μm.2 0.020μm.2
晶胞体积 1.14 x 104.μm3. 1.12 x 10.4.μm3.
VC高度
(包括选择器)
8.5μm 10.6μm

表1。设备功能对比表,Micron 512Gb 128L与176L

随着细胞闸门的数量超过150L,我们期望有很多挑战,例如替代层堆叠(模具层),WL楼梯优化,垂直通道孔钉蚀刻和ALD层工艺,ONO切割,甲板不列举,牺牲层移除,替换栅极填充,CSL沟槽型材,晶片翘曲和相关工艺均匀性。我们将在成功商业化的176L设备上查看并追踪它们。

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