在18nm DRAM上发现了三星的Anti-Fuse技术

发布时间:2018年4月11日
特约作者:崔正东,高级技术研究员

我们在TechInsights很高兴地报告,我们已经发现并分析了三星18纳米DDR4 DRAM芯片上的Anti-fuse阵列块。

Anti-fuse是嵌入式NVM技术之一,包括:

  • 嵌入式闪存
  • eFuse(电气保险丝)
  • FG / CTF闪光
  • Anti-fuse

eFuse是一种一次性可编程(OTP)存储器,通过强迫高电流密度通过导体连接,使其电阻显著提高而编程。反熔丝是另一种OTP型NVM,但其电路与熔丝有很大的不同。反熔丝电路在开始时具有高电阻状态,并在低电阻状态下施加电应力进行编程。

反熔丝NVM技术已经使用Kilopass额外的处理步骤实施了几十年。Kilopass是第一个采用1T或2T位单元结构的标准CMOS工艺开发它的公司。

我们将三星的8gb 18nm DDR4 DRAM芯片延迟到栅级,并在外围区域发现了反熔丝OTP阵列块。反熔丝块位于模具的两侧,如图1所示。每个防保险丝块由六个子块组成。

三星8gb 18纳米DDR4 DRAM芯片(延迟至gate级)上的反熔丝OTP阵列块(橙色-col-sm-12色)

图1所示。在三星8gb 18纳米DDR4 DRAM芯片上的反熔丝OTP阵列块(橙色-col-sm-12色)(延迟到gate级)。

对于反熔丝存储器技术,一个或多个晶体管可以用于一个位单元。三星的DDR4 DRAM反熔丝位单元结构由两个晶体管组成:一个选择晶体管和一个可编程晶体管。当可编程晶体管的栅氧化物是完整的,读晶体管返回一个二进制零;打破门会产生一条导电通道,返回一个二进制路径。字间距为0.20µm,位胞面积为0.12µm2.TechInsights的结构/材料/设计分析报告三星K4A8G085WC-BCRC 1x nm 8gb DDR4 SDRAM包含更多的细节。

下载三星18nm DDR和LPDDR4X的产品信息

我们的产品信息包括:三星K3UH5H50MM-NGCJ (LPDDR4X Mobile SDRAM)和K4A8G085WC-BCRC (DDR4)。

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